Встроенное самотестирование (BIST) или встроенное тестирование (BIT) — это способность интегральной схемы (IC) тестировать себя. В ИС (интегральная схема) встроены такие дополнительные аппаратные и программные функции, которые могут проводить самотестирование на предмет их функциональности и оптимальности. Это делает тестирование схем более простым, надежным и менее дорогостоящим.
Блок BIST состоит из трех компонентов — генератора тестовых шаблонов (TPG), тестируемой цепи (CUT) и анализатора выходного отклика (ORA).
С Уважением, МониторБанк